驅動控制器快速溫變試驗箱

驅動控制器快速溫變試驗箱

產品用途：

TEB系列快速溫變試驗箱主要用于考察產品熱機械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分，實現以快的速度真實再現所測樣件應用環境條件。當構成產品各部件的材料熱匹配較差，或部件內應力較大時，溫度循環試驗可引發產品由機械結構缺陷劣化產生的失效。一般應用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設備的篩選試驗和失效模式評估。是發現產品設計缺陷和工藝問題的有效方法。

驅動控制器快速溫變試驗箱

功能模塊：

此設備分為高溫區、低溫區及測試區三部分，采用***的斷熱結構及蓄熱、蓄冷效果，采用冷熱風路切換方式導入試品中，做冷熱沖擊測試.

采用原裝日制微電腦大型液晶(320*240dots)中英文顯示控制系統。

冷熱沖擊試驗箱有高程式記憶容量，可設定儲存100組程式，循環設定9999cycles,每段時間設定999Hrs59Mins.

具有RS-232C通信介面裝置，可與電腦連線控制/編輯/記錄及十組動態鏈接(TIMERSINGALRELAY),使用便捷。執行冷熱沖擊條件時，可選擇2Zone或3Zone之功能。

具備全自動，***系統，任一機件動作，由P.L.C鎖定處理。

機件故障時，配自動線路及警示訊號，發現輸入電壓不穩定時，具有緊急停機裝置。

快速溫變試驗箱符合以下標準要求：
1、GB/T5170.2-2008 《溫度試驗設備》；
2、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》；
3、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗方法Bb》；
4、IEC 60068-2-14 2009 《環境試驗.第2-14部分試驗.試驗N溫度的改變》。